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产品资料

绝缘电阻功能介损分析仪

如(ru)果您对该(gai)产品(pin)感兴(xing)趣的(de)话,可以
产品名称: 绝缘电阻功能介损分析仪
产品型号: LYJS9000G
产品展商: 其它品牌
产品文档: 无(wu)相关文档

简单介绍

LYJS9000G绝缘电阻功能介损分析仪能够分别使用内高压、外高压、内标准、外标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试;在外标准外高压情况下可以做高电压(大于10kV)介质损耗。绝缘电阻功能介损分析仪还可以测试全密封的CVT(电容式电压互感器)C1、C2的介损和电容量,实现了C1、C2的同时测试。该仪器还可以测试CVT变比和电压角差。


绝缘电阻功能介损分析仪  的详细介绍


   LYJS9000G绝(jue)缘电(dian)阻功(gong)能介损分析(xi)仪(yi)   

LYJS9000G介损(sun)(sun)测试仪(yi)是发电(dian)厂、变电(dian)站等现场(chang)或实(shi)验室测试各种高压(ya)电(dian)力设(she)备(bei)介损(sun)(sun)正(zheng)切值及电(dian)容量的高精(jing)度测试仪(yi)器。仪(yi)器为一体化结构,内(nei)置介损(sun)(sun)测试电(dian)桥,可变频(pin)调压(ya)电(dian)源,升压(ya)变压(ya)器和SF6 高稳定度标准电(dian)容器(qi)。测试(shi)高压源由仪器(qi)内部(bu)的逆变(bian)器(qi)产生,经变(bian)压器(qi)升压后用于被试(shi)品测试(shi)。频率可变(bian)为(wei)50Hz47.5Hz\52.5Hz45Hz\55Hz60Hz57.5Hz\62.5Hz55Hz\65Hz,采用数字陷波技术,避开(kai)了(le)(le)工频电(dian)场(chang)对测试(shi)的干扰,从(cong)根本上解(jie)决了(le)(le)强电(dian)场(chang)干扰下(xia)准(zhun)确测量的难题。同时适用于全部停电(dian)后(hou)用发电(dian)机供电(dian)检测的场(chang)合。该仪器配以绝缘油(you)杯(bei)加温控装置可测试(shi)绝缘油(you)介质损耗。

仪器主要具有如下特点(dian):

绝缘电阻测试(shi)

仪器集成绝缘(yuan)电阻测试(shi)模块,可(ke)进行极化(hua)指数、吸收比以及绝缘(yuan)电阻的测试(shi)。

LCR全自动(dong)测(ce)量

全自(zi)动电感、电容、电阻测量,角度(du)显示。

多种测(ce)试(shi)模式

仪器能够分别使用内(nei)(nei)高(gao)压(ya)(ya)、外高(gao)压(ya)(ya)、内(nei)(nei)标准、外标准、正接(jie)法、反接(jie)法、自激法等(deng)多种方式测试;在外标准外高(gao)压(ya)(ya)情况下可以(yi)做高(gao)电(dian)压(ya)(ya)(大于10kV)介质(zhi)损耗。

CVT测试(shi)一(yi)步到位(wei)

该仪器还可以测试全密(mi)封的CVT(电(dian)容式电(dian)压互感(gan)器(qi))C1C2的介损(sun)和电容(rong)量,实(shi)现了C1C2的(de)同时测(ce)(ce)试。该仪器还可以(yi)测(ce)(ce)试CVT变比和电压角差。

不(bu)拆高压引(yin)线测量(liang)CVT

仪器可在不(bu)拆除CVT高压引线的情况(kuang)下正确(que)测量CVT的介(jie)质损耗值和电容(rong)值。

CVT反接屏蔽法测量C0

仪器(qi)可(ke)采用反接屏蔽(bi)法测量(liang)CVT上端C0的介质损耗值和电容(rong)值。

多(duo)重保(bao)护安全可靠

仪器(qi)具备(bei)输入电压波(bo)动、高压电流、输出短路、电源故障、过压、过流、温度(du)等多重保护措施(shi),保证了仪器(qi)安全、可靠。仪器(qi)还(hai)具备(bei)设(she)置接地检测功能(neng),确保不(bu)接地设(she)备(bei)不(bu)允许升压。

高速(su)采样信号

仪(yi)器内部的逆变(bian)器和采样电路全部由数字化控制,输出电压连续可(ke)调。

海(hai)量存储数据

仪器(qi)(qi)内部配备有日历芯片和大容量存储器(qi)(qi),保存数据200组,能将检测(ce)结果按(an)时间(jian)顺序保(bao)存,随时可以(yi)查(cha)看历史记(ji)录,并可以(yi)打印(yin)输出(chu)。

超大液晶中文(wen)显示

操(cao)作简单,仪器配备了优(you)异的全触(chu)摸液晶显示(shi)屏,超大全触(chu)摸操(cao)作界面,每过程都非常(chang)清(qing)晰明了,操(cao)作人员不需要额外的专(zhuan)业培训就(jiu)能(neng)使用。轻轻点击一下就(jiu)能(neng)完成整(zheng)个过程的测量,是目前非常(chang)理(li)想的智能(neng)型(xing)介损测量设备。

  LYJS9000G绝缘电(dian)阻功(gong)能介(jie)损分(fen)析仪工作(zuo)原理


                    21  测量原理图

   LYJS9000G绝缘(yuan)电阻(zu)功能介损分析仪主要技术参数

1

使用条件

-1540

RH80%

2

抗干(gan)扰原理

变(bian)频法

3

    

AC 220V±10%

允(yun)许发电机

4

高(gao)压输出

0.5KV10KV

每隔0.1kV

精度:2%

*大(da)电(dian)流     

200mA

容(rong)量

2000VA

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ     自动(dong)双变频

5

自激电(dian)源

AC 0V50V/15A

6

 辨(bian) 

tgδ: 0.001%

Cx: 0.001pF

7

    度(du)

tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)

C x :±(读数(shu)*1.0%+1.00PF)

8

测量范围

tgδ

无限制

C x

15pF  Cx  300nF

10KV

Cx  60  nF

  1KV

Cx  300 nF

CVT测试

Cx  300 nF

9

LCR测量范围

L>20H2kV           

R>10KΩ(2kV

精度(du):0.1%

分(fen)辨率:0.01

10

CVT变比(bi)范围

1010000 精(jing)度0.1% 

分辨率:0.01

11

绝缘(yuan)电阻(zu)

直流高(gao)压0.5-10KV     精度:±(读数(shu)×2%+10V

100kΩ-1000GΩ时低(di)于(yu)5%(试验电压不(bu)低于250V

100GΩ-1000GΩ时为10%(试验电压不低于10000V

12

外型尺寸(cun)(主(zhu)机)

350L)×270W)×270H

外型尺(chi)寸(附(fu)件箱(xiang))

350L)×270W)×160H

13

存储器大(da)小

200  支持U盘数据存储

14

重量(主机):22.75Kg

重量(附件(jian)箱):5.25Kg

  LYJS9000G绝(jue)缘(yuan)电阻功(gong)能介损分析仪(yi)面板说明

1.紧急停机按钮(niu)及高压指示灯

2.复位按钮

3.U盘接口(kou)

4.总电(dian)源开关

5.AC220V电源输入插座

6.Cn:标准(zhun)电(dian)容输入插座

7.Cx:试品输入插座

8.触(chu)摸显示屏

9.接(jie)地接(jie)线柱

10.ES自激(ji)输出

11.打印(yin)机

12.高压输出HV插座


4.1、紧(jin)急停(ting)机按钮及高压指示灯(deng)

安装位置:如图41 eq \o\ac(,1)1

功(gong)    能:在仪器测试过程中有高压(ya)输出(chu)时(shi),遇紧(jin)急情况需(xu)要断开高压(ya)输出(chu),即可按下(xia)紧(jin)急停机按钮(niu)立即从内部(bu)切(qie)断高压(ya)输出(chu);按钮(niu)内置指示(shi)灯作(zuo)为(wei)高压(ya)输出(chu)指示(shi)灯。

4.2、复位按钮(niu)

安装位置:如图41 eq \o\ac(,2)2

    能:提供仪器(qi)复位功能。 

4.3U盘接口

 安装位置:如图41—③。

    能(neng):可把仪器(qi)内部保存的测试数(shu)据(ju)导入并保存到(dao)U盘(pan)中(zhong)。

    意:数(shu)据(ju)传输过程当中严(yan)禁拔出U盘,只有当数据传输完(wan)毕(bi)后并且液晶屏上出(chu)现拔出(chu)U盘的提(ti)示后,方可拔(ba)出(chu)U盘,否则有可能烧毁U盘。

4.4、总(zong)电源开关(guan)

 安装(zhuang)位置:如(ru)图41—④。

 功(gong)    能:打开此关,仪器上电进入(ru)工(gong)作状态(tai)。关闭此开关,也同时关闭仪器内部所有电源系统,紧(jin)急情况应立(li)即关闭此开关并拔掉输入(ru)电源线。

4.5、电源(yuan)输(shu)入插座(zuo)

 安装位(wei)置(zhi):如图41—⑤。

     能:提(ti)供仪器(qi)工(gong)作(zuo)电源。(AC 220V±10%)

 接线方法:使用标准插座与市电或发电机相连接。

     意:电(dian)源插座内(nei)部带有保险(xian)管(guan)保护装置(zhi),不正常情况下可烧毁保险(xian)管(guan)保使仪器断电(dian),保护仪器内(nei)部。  

4.6、标准电容器输入(ru)Cn插座

 安装位(wei)置:如图41—⑥。

     能:外接标(biao)准(zhun)测试信号。

 接(jie)线(xian)方法:外标(biao)准测试时电(dian)(dian)(dian)(dian)缆芯线(xian)接(jie)标(biao)准电(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)测试端(duan),电(dian)(dian)(dian)(dian)缆屏蔽层接(jie)标(biao)准电(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)(qi)屏蔽极。外标(biao)准测试时不(bu)管是正(zheng)接(jie)法还是反接(jie)法测量,标(biao)准电(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)(qi)接(jie)线(xian)方法不(bu)变。此方式用(yong)于(yu)外接(jie)高电(dian)(dian)(dian)(dian)压等(deng)级标(biao)准电(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)(qi),实现(xian)高电(dian)(dian)(dian)(dian)压介(jie)质损耗测量。

4.7、试品低压(ya)输入Cx插座

安装位置(zhi):如图41—⑦。

功    能:正接法时输入被试(shi)品测试(shi)信(xin)号。

接(jie)线方法:插座(zuo)中心连(lian)接(jie)黑色信号(hao)线芯(xin)线;金属(shu)外壳(qiao)接(jie)黑色信号(hao)线屏(ping)(ping)蔽(bi)层;正接(jie)法时芯(xin)线接(jie)被(bei)试品(pin)低压信号(hao)端,若被(bei)试品(pin)低压信号(hao)端有屏(ping)(ping)蔽(bi)极(ji)(如低压端的屏(ping)(ping)蔽(bi)环),则可将屏(ping)(ping)蔽(bi)层接(jie)于屏(ping)(ping)蔽(bi)极(ji),无屏(ping)(ping)蔽(bi)极(ji)时屏(ping)(ping)蔽(bi)层悬空。

   意: · 在启(qi)动测试(shi)的过(guo)程中严(yan)禁拔(ba)下插(cha)头,以防被试(shi)品电流(liu)经人(ren)体入地(di)。

· 用标准(zhun)介损(sun)器或标准(zhun)电容器检测正接法精度时,应使用全屏蔽插头连接介损(sun)器或标准(zhun)电容器,否则暴露(lu)的(de)芯线(xian)可能受到干扰引起(qi)误差。

· 测(ce)试(shi)过程(cheng)中(zhong)(zhong)应保(bao)证插座中(zhong)(zhong)心测(ce)试(shi)芯线与被试(shi)品低压(ya)端零电阻连接,否(fou)则可能引起测(ce)量结(jie)果的数据(ju)波动。

· 强干扰下(xia)拆除接线时,应在(zai)保持电(dian)缆(lan)接地状态下(xia)断开连接,以防感应电(dian)击。

4.8、触摸(mo)显示屏(液晶屏应避(bi)(bi)免长时间(jian)阳光暴晒,避(bi)(bi)免重物(wu)挤压和利器(qi)划(hua)伤)

安装位(wei)置(zhi):如(ru)图(tu)41 eq \o\ac(,8)8

    能:全触摸大(da)屏幕(120mm×90mm)中文显(xian)示,每一步操作清晰明了(le)。

4.9、接地接线柱

 安装位(wei)置:如图41—⑨。

     能(neng):仪器保护接地。

注(zhu)    意:仪器内部(bu)自带接(jie)地保(bao)护(hu)装置,测(ce)试中应当保(bao)证可靠接(jie)入地网。否则仪器将自动(dong)产生保(bao)护(hu)不开始升压测(ce)试。      

4.10ES自激输出(chu)

安装位置:如图41—⑩。功(gong)    能:自激输(shu)出(chu),仪器内部为自激输(shu)出(chu)变压器的一端(duan)(变压器另一端(duan)已接地(di)),自激法测(ce)试CVT介损(sun)时连接(jie)到CVT的自激(ji)线圈(da)上,dn接地(di),为CVT提(ti)供测量所需高(gao)压电(dian)源。

   意(yi): 因(yin)低压输出电流大,应采用(yong)仪器(qi)专用(yong)连接线连接到CVT二次绕组并使其接(jie)触(chu)良好,选择正(zheng)、反(fan)接(jie)法测(ce)量时,此(ci)输出关闭。

4.11、打印(yin)机

 安装位置:如图41 eq \o\ac(,11)11

     能:显示可打印数据时,将光标移动(dong)至(zhi)“打印”项(xiang)按确认键(jian)打印。

     意:打(da)印(yin)机为(wei)全(quan)自动热敏打(da)印(yin)机,打(da)印(yin)纸宽55mm。更换打(da)(da)印(yin)(yin)纸时请使用热敏打(da)(da)印(yin)(yin)机专(zhuan)用打(da)(da)印(yin)(yin)纸,首先扳起打(da)(da)印(yin)(yin)机旁边角,打(da)(da)开打(da)(da)印(yin)(yin)机盖板(ban),然后按顺序将(jiang)打(da)(da)印(yin)(yin)纸放入打(da)(da)印(yin)(yin)纸仓内并留(liu)少许部分在(zai)外面,*后合(he)上打(da)(da)印(yin)(yin)机盖板(ban)。 

4.12、高(gao)压输出HV插座  

 安装位置(zhi):如图42—⑫,外设保护门。

      能: 仪器变频(pin)高压(ya)输(shu)出;检(jian)测反接线试品(pin)电(dian)流;内部标准电(dian)容器的高压(ya)端。

 接线方法:插座中(zhong)心连(lian)接红色高压(ya)线芯线;金(jin)属外壳(qiao)连(lian)接红色高压(ya)线屏           蔽层(ceng);正接(jie)法时芯线(xian)和屏(ping)(ping)蔽层(ceng)都(dou)可以作加压(ya)(ya)(ya)线(xian)对(dui)被(bei)试(shi)品(pin)高压(ya)(ya)(ya)端(duan)(duan)加压(ya)(ya)(ya);反接(jie)法时只能用(yong)芯线(xian)对(dui)被(bei)试(shi)品(pin)高压(ya)(ya)(ya)端(duan)(duan)加压(ya)(ya)(ya),若试(shi)品(pin)高压(ya)(ya)(ya)端(duan)(duan)有(you)屏(ping)(ping)蔽极(ji)(如高压(ya)(ya)(ya)端(duan)(duan)的屏(ping)(ping)蔽环),则可将(jiang)屏(ping)(ping)蔽层(ceng)接(jie)于(yu)屏(ping)(ping)蔽极(ji),无屏(ping)(ping)蔽极(ji)时屏(ping)(ping)蔽层(ceng)悬(xuan)空。

     意:· 在启动测试的(de)过程(cheng)中此插座带有高(gao)压有触电危险,优良禁止触碰高(gao)压插座及与(yu)之相连(lian)的(de)相关设备。

· 用标准(zhun)(zhun)介(jie)损(sun)器(qi)或标准(zhun)(zhun)电容器(qi)检测正接法精度时,应使用全屏(ping)蔽插(cha)头连(lian)接介(jie)损(sun)器(qi)或标准(zhun)(zhun)电容器(qi),否(fou)则(ze)暴露的芯线可能(neng)受到干扰引起误差。

测(ce)试过程中(zhong)应(ying)保证插座中(zhong)心红色高压线(xian)芯线(xian)与被试品高压端零电阻连接(jie),否则可能(neng)引起测量(liang)结果的数(shu)据波动。

  LYJS9000G绝缘电阻功能介损分析仪使(shi)用说明

5.1、主(zhu)菜单

打开(kai)电(dian)源开(kai)关,进入主(zhu)菜单(如(ru)图5—1);选择界面右边相应的测试(shi)选项进(jin)行测量。

※ 注:  仪器启动测试后,紧(jin)急情况若停(ting)止,只能按(an)紧(jin)急停(ting)机,不要按(an)复位。

5.2、一(yi)般测试

首先根据相(xiang)应的接线(xian)(xian)提示接好仪器(qi)外部与被试品之间的连线(xian)(xian),然后点击主(zhu)界面“一般测试”选项,进(jin)入下上(shang)等(deng)一般测试菜单(如图52)。然后可以(yi)点(dian)击“参数(shu)设(she)(she)置”进去设(she)(she)置菜单(如(ru)图53)进行详细的测试参数设置。

分别点击每个(ge)需要(yao)设置的项目,按“增加”“减小(xiao)”或(huo)“选择”来修(xiu)改(gai)。修(xiu)改(gai)完成后(hou)点击“保(bao)存(cun)”即可保(bao)存(cun)刚才所修改(gai)(gai)的参数(shu)并返(fan)(fan)回一般(ban)测试界面(mian),点(dian)击“取消”则(ze)不保(bao)存(cun)本次修改(gai)(gai)并返(fan)(fan)回一般(ban)测试界面(mian)。

相关参数设置好了(le)后长(zhang)按“启动(dong)(dong)测试(shi)(shi)”单(dan),进入测试(shi)(shi)菜单(dan)。测试(shi)(shi)过(guo)程中电压值(zhi)一项是根(gen)据先(xian)前所(suo)选择(ze)的测试(shi)(shi)电压平(ping)滑(hua)上升至设置值(zhi)后保持不(bu)变,然后自(zi)(zi)动(dong)(dong)开始测试(shi)(shi)。开始测试(shi)(shi)后根(gen)据先(xian)前所(suo)选择(ze)的测试(shi)(shi)频(pin)率自(zi)(zi)动(dong)(dong)变频(pin)到各相应(ying)的频(pin)率进行测试(shi)(shi),测试(shi)(shi)完成后自(zi)(zi)动(dong)(dong)显示(shi)测试(shi)(shi)结果(如图54);测(ce)试结果自动保存,可点击(ji)“打印(yin)”按钮(niu)打印(yin)本(ben)次测(ce)试结果。

   意:每一种测试(shi)的具体(ti)参数设置和接线方(fang)法请查看第六章“参考(kao)接线” 。


5.3CVT测试

首先(xian)根(gen)据相应(ying)的(de)接(jie)线提示接(jie)好仪器外部的(de)连线,然(ran)后点击主(zhu)界(jie)面“CVT测(ce)试”选项,进入下上等CVT测试(shi)菜单(如图55)。然后可以点(dian)击(ji)“参数设置”进去(qu)设置菜单(如图56)进(jin)行详细的(de)测试(shi)参数设(she)置。分别点(dian)击每(mei)个需要(yao)设(she)置的(de)项目,按“增加”“减小”或“选择”来修改。修改完成(cheng)后点(dian)击“保存”即可保存刚(gang)才所修改的(de)参数并返(fan)回CVT测试界面(mian),点击“取消”则(ze)不保(bao)存本次(ci)修改并返回CVT测试界面。

相关参数(shu)设置(zhi)好了后长按“启动测试(shi)”单(dan)(dan),进入测试(shi)菜(cai)单(dan)(dan)(如图57)。测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)过(guo)程中(zhong)电压值一项是根(gen)据(ju)(ju)先前所选择的测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)电压平滑至(zhi)设置值后(hou)(hou)保持(chi)不变,然后(hou)(hou)自(zi)(zi)动(dong)开始测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)。开始测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)后(hou)(hou)根(gen)据(ju)(ju)先前所选择的干扰(rao)频(pin)(pin)率自(zi)(zi)动(dong)变频(pin)(pin)到相(xiang)应的频(pin)(pin)率进(jin)行测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi),测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)完成后(hou)(hou)自(zi)(zi)动(dong)显(xian)示(shi)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)结果(如图58)。测(ce)试(shi)结果自动保存,可点击“打(da)印”按(an)钮打(da)印本(ben)次(ci)测(ce)试(shi)结果。

    意(yi):每一种测试的具体参数设(she)置和接线方法请查看第六章(zhang)“参考接线” 。


5.4CVT变(bian)比测试

首先根据相应的(de)接线提示接好(hao)仪器外(wai)部(bu)的(de)连线, 进入CVT测试菜单在参数设置中(zhong)选择(ze)“CVT变比测试”,然后返(fan)回开始测试界(jie)面(如图59),长按“启动测(ce)试(shi)”开始测(ce)量(liang)(如图510),测试完(wan)成后自动显示测试结果(如图511)。测试结果自动保(bao)存,可(ke)点击“打(da)印”按钮打(da)印本次测试结果。  

              

5.5、正反(fan)同测

首先根据相应的(de)接(jie)(jie)线(xian)提示接(jie)(jie)好仪器外部的(de)连线(xian), 进入正反同(tong)测菜单(dan),在参数设置中(zhong)选择设置需要测试的(de)高压电压,然后(hou)保(bao)存(cun)返回(如图(tu)512),长(zhang)按“启动测(ce)试(shi)”开始测(ce)量,测(ce)试(shi)完成(cheng)后自动显示测(ce)试(shi)结(jie)果(如图513)。测(ce)试结(jie)果自动保存(cun),可点(dian)击“打(da)印”按钮打(da)印本次测(ce)试结(jie)果。

5.6LCR测(ce)试

首先(xian)根(gen)据(ju)相(xiang)应(ying)的(de)接(jie)线(xian)提示接(jie)好仪器外部与(yu)被试品之(zhi)间的(de)连线(xian),按照【正接(jie)法(fa)(常规接(jie)线(xian))】或者【反(fan)接(jie)法(fa)(常规接(jie)线(xian))】然(ran)后点(dian)击主(zhu)界面LCR测试”选项,进入(ru)下上(shang)等LCR测试菜(cai)单。

然后可以点(dian)击“参(can)数设(she)置(zhi)”进去设(she)置(zhi)菜单进行(xing)详(xiang)细(xi)的(de)(de)测试(shi)参(can)数设(she)置(zhi)。分别点(dian)击每个需要设(she)置(zhi)的(de)(de)项目,按“增加”“减小”或(huo)“选择”来修改。修改完(wan)成后点击“保存”即可保存刚才所修改的参数并返(fan)回(hui)(hui)一般(ban)测试界(jie)面,点击“取(qu)消”则(ze)不(bu)保存本次修改并返(fan)回(hui)(hui)一般(ban)测试界(jie)面。长按“启动(dong)测试”开始测量(liang),测试完(wan)成后自动(dong)显示测试结果(如图514)。测(ce)试(shi)结果自动保(bao)存,可点击(ji)“打(da)印”按钮打(da)印本次测(ce)试(shi)结果。

5.7、绝缘测试

首(shou)先根(gen)据(ju)相应的接(jie)(jie)(jie)线提示(shi)接(jie)(jie)(jie)好仪器外部与被试(shi)品(pin)之间的连(lian)线,然后点击主界面“绝缘(yuan)测(ce)(ce)试(shi)”选项(xiang),进入下上等(deng)绝缘(yuan)测(ce)(ce)试(shi)菜单(dan)。然后可选择测(ce)(ce)试(shi)方(fang)式为(wei)正接(jie)(jie)(jie)法(fa)(fa)或反(fan)接(jie)(jie)(jie)法(fa)(fa),选择合适的测(ce)(ce)试(shi)电压。设置好相关参数之后即可点击下方(fang)“极(ji)化指数”“吸收比”“绝(jue)缘电阻”进行测试。

5.8、数据(ju)查(cha)询

在主菜单点击“数(shu)据管理”进入数(shu)据管理界面(如图516),点击(ji)“数据(ju)查询(xun)”进(jin)入。进(jin)入数据(ju)存放菜(cai)单(如图517)后,按(an)上(shang)、下(xia)键(jian)移动光标至想要查(cha)看的(de)数据项目上(shang),(仪(yi)器所(suo)保存的(de)数据均是按(an)照(zhao)测量时间的(de)先后所(suo)排列的(de),第(di)000个(ge)数据(ju)即(ji)*新数据(ju),第199个数(shu)据即*老(lao)数(shu)据。)再点击相(xiang)应(ying)的数(shu)据,进入数(shu)据打(da)印项目,在此菜单里面可以按上,下键翻页至相(xiang)应(ying)的数(shu)据序号(hao)上,可对数(shu)据进行打(da)印操作。

5.9、参数(shu)设(she)置

打开(kai)仪(yi)器后直接(jie)点(dian)击“参数设置”进入时(shi)间(jian)设(she)置界面。进入时(shi)间(jian)菜单(如图5—18)后,点击想要修改的时间数据(ju)项目(mu)上(shang),然后再按增(zeng)加(jia)、减小键调整相(xiang)应(ying)的“时” 、“分(fen)” 、“秒(miao)” ,*后点击保存修改时间设置(zhi),点击取消退出设置(zhi)并返回(hui)主界面。

※ 注:

所(suo)有图片(pian)并(bing)非实(shi)物的全部描叙,请以实(shi)际仪器界(jie)面为主,仅做(zuo)参(can)考。

所有步(bu)骤在设置(zhi)不当或想再次改(gai)变的情(qing)况下,均可(ke)按取消键返回上一步(bu)骤,如果(guo)按取消键不能实现返回。则可(ke)以直接按复位键退到主菜单重(zhong)新开始设置(zhi)。

六(liu) 参考接线

(具体请参(can)阅相关(guan)规程(cheng))

1、正接法(fa)

1、内电(dian)压—内标准—正接法(电(dian)容常规接线(xian))

2、内电压—正接(jie)法(fa)(绝缘电阻接(jie)线)

3、内电压—外标准(zhun)—正接(jie)法(必须先设置(zhi)好(hao)外接(jie)标准(zhun)容量)

4、外(wai)电压—内标(biao)准(zhun)—正接法

5、外电(dian)压—外标(biao)准(zhun)—正接法(必须先设置好外标(biao)准(zhun)容量) 

2、反接(jie)法

1、内(nei)电压—内(nei)标准—反接法(常规接线)

2、内电(dian)压(ya)—外(wai)标准—反接法(必须先设置好外(wai)标准容量)

3、外电压—内标准(zhun)—反接法

4、外电(dian)压—外标准—反接法(必须先设置好外标准容量)

3、CVT测试(注(zhu)意:CVT测试时高压线应悬空不(bu)能接触地面,否则其对(dui)地附加介损会引起误(wu)差。)

1、CVT同时测试

(一次完成测试)

2、CVT分别(bie)测(ce)试

(普通(tong)测试)

3、不拆高压(ya)引线(xian)测试CVT电容值和介损测量模式:CVT自激法。电压≤ 2kV

4、反接屏蔽法测(ce)量CVT上端C0的电容值和介损(sun)测量模(mo)式:反接法。电压≤2kV

4、CVT变比测试

5、正反同测

三(san)绕组变压器CHG+CHL高压(ya)线屏蔽接T绕组)

三绕组变压器CLG+CLT(高(gao)压(ya)线(xian)屏蔽接HV绕组)

三(san)绕(rao)组(zu)变压器(qi)CTG+CHT(高压线屏蔽接LV绕组)

6、电压互感器

1):一次侧(ce)对二次侧(ce)                 

A、接线(xian)见图(tu)6-1            

B、电压为2KV              

C、正接法 

2):一次(ci)侧(ce)对二次(ci)侧(ce)及地

A、接线(xian)见图(tu)6-2

B、电压为(wei)2KV

C、反(fan)接法

(3):二次(ci)侧对一侧次(ci)及地

A、接线(xian)见(jian)图6-3

B、电压为2KV

C、反接法(fa)

(4):末端(duan)屏蔽法

A、接线见图6-4

B、电压为10KV

正接法

7、电流(liu)互感器

1):一次侧对二次侧

A、接线见图6-5

B、电压为(wei)10KV

C、正接法

(2):一次侧对末屏 (常用)

A、接线参考图6-6

B、电压为10KV

C、反接法

(3):一次侧对二次侧及地(di)

A、接线见图(tu) 6-7         

B、电(dian)压为10KV

C、反接法

8、高压穿墙套管(guan)

1):芯(xin)棒对末(mo)屏 (常用(yong))

A、解开末屏接地

B、接线(xian)见图6-8

C、电压为10KV        

D、正(zheng)接法

(2):芯棒对末屏及地(di)

A、接线见(jian)图(tu)6-9

B、电压为10KV

反接法(fa)

9、电力变压器

1):一次绕(rao)组对二次绕(rao)组

A、接(jie)线见图6-10

B、电压为(wei)10KV

C、正接法

(2):一(yi)次(ci)绕组对(dui)二次(ci)绕组及地

A、接(jie)线见图6-11

B、电压为(wei)10KV

C、反接法(fa)

(3):二次绕(rao)组(zu)对一(yi)次绕(rao)组(zu)及地

A、接线(xian)见图6-12

B、电压(ya)为10KV

C、反接法

10、绝缘油介损

1.此时杯体(ti)为高压,注(zhu)意(yi)安全;

2.正接法(fa)

3.HV用红色(se)高(gao)压线

4.Cx用黑色测试线(xian),屏蔽(bi)层(ceng)接油杯(bei)地(di)

5.电(dian)压2kV

6.C高(gao)压)接HV

7.A测试(shi))接Cx

8 .B屏蔽(bi))接(jie)地

11、标准电容器(qi),标准介损器(qi)

·正接法

   1.HV用红色(se)高压线连(lian)试品高压

   2.Cx用黑色测(ce)试线连试品低(di)压

   3.黑色测试(shi)线的屏蔽层连试(shi)品E

·反(fan)接法

   1.试品(pin)高压接(jie)地

   2. HV用红(hong)色高压(ya)(ya)线连试品(pin)低(di)压(ya)(ya)        

   3.红色高压线的屏蔽层连试品E

   4.Cx悬空

   5.桶体已为高压注意(yi)绝(jue)缘

  意:

 · 所有连(lian)线(xian)虚线(xian)为电缆屏蔽层,实线(xian)为电缆芯线(xian)。

 · 请使用(yong)出厂时配(pei)套的测试(shi)(shi)电缆(lan)。仪(yi)器(qi)测量(liang)(liang)电缆(lan)通(tong)用(yong),但(dan)本仪(yi)器(qi)属(shu)于高精(jing)密测量(liang)(liang)仪(yi)器(qi),测量(liang)(liang)时请尽量(liang)(liang)使用(yong)仪(yi)器(qi)出厂时附带的测试(shi)(shi)电缆(lan),否则(ze)的话可能(neng)因电缆(lan)自(zi)身的属(shu)性差异而(er)影响测量(liang)(liang)结果的精(jing)度。

 · 具(ju)体每(mei)个接线插座和端子使(shi)用何种电(dian)缆连接请参考 “面板说明(ming)”。

  使(shi)用注意事项(xiang)

本仪器只能在停(ting)电(dian)设备上(shang)使用(yong),其它设备可不断电(dian);

仪器自带(dai)有升压装置,应注意高压引线(xian)的绝缘(yuan)及人员安全;

仪器必须(xu)可靠(kao)接地;

使用(yong)本(ben)仪器(qi)检(jian)测设备前,应先对设备进(jin)行绝缘(yuan)检(jian)测;

确(que)定设(she)备的耐压等(deng)级,正确(que)选(xuan)择(ze)仪(yi)器(qi)升压档(dang)位,以防击穿设(she)备,损坏仪(yi)器(qi);

仪器所(suo)配专(zhuan)用高(gao)压电缆(lan)出厂时(shi)(shi)已(yi)检(jian)测合格,但测量时(shi)(shi)仍需远(yuan)离人体(ti);

输入电压为AC220V±10%,超(chao)出范(fan)围(wei)都有可能影响(xiang)测试精(jing)度;*大(da)输入电压为(wei)AC264V,超过此(ci)值会造成(cheng)长(zhang)久(jiu)性损坏,对此(ci)厂(chang)家不予保修;

打(da)印机有可能在(zai)搬运过程(cheng)中因卷纸松动而出现打(da)印卡纸,此时只(zhi)需将卷纸取出,绕紧后重(zhong)新装入(ru);

仪器应注意防潮,防剧烈震动;

发电(dian)机供电(dian)时应(ying)将输出(chu)零线接(jie)地(di),否则会提(ti)示接(jie)地(di)有误。

附(fu)录A:随机配(pei)件

序号

     

数(shu)量(liang)

1

仪(yi)器主机

1

2

附件箱

1个(ge)

3

红色高(gao)压测试线

1

4

黑色(se)低压测(ce)试线(xian)

1

5

CVT自激电源线

1根(gen)

6

AC220V电源(yuan)线(xian)

1

7

接地线

2

8

使用(yong)说明(ming)书(shu)

1份(fen)

9

出厂合格证

1

10

保(bao)险管(guan)、打印(yin)纸

备用

  意:具体随机配(pei)件视出(chu)货型(xing)号的差异可(ke)能(neng)有所不同。

附录B:名称解释

功(gong)率因数=输(shu)入有用功功率/输(shu)入(ru)总功率(lv)(视在(zai)功率)


tgx: 被(bei)试品的介(jie)质损(sun)耗值

Cx : 被试(shi)品的电容容量

PF : 被(bei)试(shi)品(pin)的功率(lv)因素

Ιx : 被试品的测试电(dian)流

Pr : 容(rong)性设备的有功功率

HV: 被试(shi)品的测试(shi)电压

f : 被试(shi)品的(de)测试(shi)频率

Tanδ = tg (δ )

PF = cos (θ)

Pr =Ux * Ιx * cos (θ)


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